Tender Automation

Apparate und Geräte zum Prüfen und Testen: Ausschreibungen

CPV-Gruppe 385 in der Abteilung 38 — Labor- und Messtechnik. Alle Ausschreibungen mit laufender Frist aus den Vergabeportalen.

26 Ausschreibungen mit laufender Frist
13,2 Tage Ø Frist (Rest)
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Objektträgerscanner inkl. Zubehör für Polarisation
Universitätsklinikum Halle (Saale (AöR) - Kaufmännische DirektionÖffentliche Ausschreibung1 Los

Gegenstand der Ausschreibung ist die Beschaffung eines vollautomatischen Slidescanners zur Digitalisierung histologischer und zytologischer Objektträger (Whole-Slide-Imaging) für die Pathologie. Bestandteil der Leistung sind die für den klinischen Betrieb erforderliche Software einschließlich …

Frist 02.10.2026 · noch 4 Tage
Inline Laborsensorik
Institut für Umwelt & Energie, Technik & Analytik .V. (IUTA) Duisburg Öffentliche Ausschreibung

Lieferung von Laborsensorik

Frist 02.10.2026 · noch 4 Tage
Deutschland – Mikroskope – Supply of a Scanning Electrochemical Microscope
European Commission, DG JRC - Joint Research Centre Eggenstein-Leopoldshafen Offenes Verfahren150.000 €1 Los

The JRC Karlsruhe plans to sign a contract for a supply of a Scanning Electrochemical Microscope (SECM) to determine the nuclear fuel corrosion at micrometric scale under different conditions.

Frist 06.10.2026 · noch 8 Tage
Mikroskopsystem
Fraunhofer-Gesellschaft, Einkauf B12 Fraunhofer IZM Gustav-Meyer-Allee 25 13355 Berlin Öffentliche Ausschreibung1 Los
Frist 09.10.2026 · noch 11 Tage
6015-165-1_CBBE Hydraulikübungsplätze, CBBE Erlangen
Stadt Erlangen Erlangen Offenes Verfahren

Hydraulikübungsplätze: 4x Lernthema: Schalthydraulik, manuelle Betätigung, 4x Lernthema: Schalthydraulik, elektrische Betätigung, 4x Lernthema: Fehlersuche in hydraulischen Syst...

Frist 13.10.2026 · noch 15 Tage
Deutschland – Maschinen und Geräte zum Prüfen und Messen – Semi-automatic prober for characterization of 200 mm wafers
IHP GmbH - Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik Frankfurt (Oder) Offenes Verfahren1 Los

Supply, delivery, installation, commissioning and integration of a semi-automatic wafer prober system for the electrical and temperature-dependent characterization of 200 mm wafers. The system shall support DC and pulsed I-V as well as low-frequency impedance measurements up to 10 MHz and shall be …

Frist 13.10.2026 · noch 15 Tage
Deutschland – Apparate und Geräte zum Prüfen und Testen – Millimeterwellen-Interferometriemessplatzes
Technische Universität Hamburg Hamburg Offenes Verfahren1 Los

Gegenstand der Beschaffung ist ein vollständig funktionsfähiger, kalibrierbarer und für den wissenschaftlichen Laborbetrieb geeigneter Millimeterwellen-Interferometriemessplatz zur Charakterisierung von Hochfrequenzkomponenten, Radarsystemen und -Antennen. Die drei Kernfunktionen Netzwerkanalyse …

Frist 15.10.2026 · noch 17 Tage
Modernisierung Steuerelektronik Elektronenmikroskop Institut für Physik 2026
Julius-Maximilians-Universität Würzburg als staatliche Einrichtung in Vertretung des FS Bayern 97074 Würzburg Öffentliche Ausschreibung1 Los

Im Rahmen des vorliegenden Vergabeverfahrens vergibt die Julius-Maximilians-Universität Würzburg als staatliche Einrichtung in Vertretung des Freistaats Bayern die Beschaffung eines Modernisierungspakets für das Rasterelektronenmikroskop LEO 1525 für das Institut für Physik an der …

Frist 16.10.2026 · noch 18 Tage
Deutschland – Mikroskope – 180 Kursmikroskope
Universitätsklinikum Halle (Saale) AöR Halle (Saale) Offenes Verfahren506.700 €1 Los

Die Universitätsmedizin Halle beabsichtigt die Beschaffung einer digitalen Mikroskopie-Gesamtlösung für den universitären Lehr-, Praktikums- und Kursbetrieb. Gegenstand der Vergabe sind Lieferung, Installation, Inbetriebnahme, Einweisung sowie Service- und Supportleistungen für insgesamt 180 …

Frist 22.10.2026 · noch 24 Tage

Apparate und Geräte zum Prüfen und Testen in anderen Bundesländern

CPV-Gruppen der Abteilung Labor- und Messtechnik

Ganze Abteilung: Labor- und Messtechnik

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