Ergebnis der Vergabe
Deutschland – Massenspektrometer – Raster-Scan-Mikroskop/SIM Mikroskop - PR560499-3870-W
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Bieter
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Los
Beschreibung
Raster-Scan-Mikroskop/SIM Mikroskop
Analyse: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto
Mit einem Konto liest Tender Automation die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus eine Analyse: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.
Analyse ansehenAngaben aus der Bekanntmachung
- Auftraggeber
- Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12
- Ort
- München
- Bundesland
- Niedersachsen
- CPV
- 38433100 — Massenspektrometer
- Verfahrensart
- Verhandlungsverfahren ohne Aufruf zum Wettbewerb
- Veröffentlicht
- 13.11.2024
- Zuschlag am
- 12.11.2024
- Kennung
- c7e09cdf-8f39-418e-9ae5-0cf5890c65ce
- Quelle
- TED (EU-Amtsblatt)
Lose
- Los 0
Zuschlag
- Nikon Deutschland, ZNL der Nikon Europe B.V.Düsseldorf
Zum Vergabeportal
Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 13.11.2024, 00:00.