Ergebnis der Vergabe

Deutschland – Rasterelektronenmikroskope – Rasterelektronenmikroskop

1 Bieter

1 Los

Beschreibung

Die HSU beabsichtigt die Beschaffung eines Rasterelektronenmikroskops für Untersuchungen unter Argon-Schutzatmosphäre

Analyse: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto

Mit einem Konto liest Tender Automation die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus eine Analyse: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.

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Angaben aus der Bekanntmachung

Auftraggeber: Helmut-Schmidt-Universität/ Universität der Bundeswehr Hamburg
Ort: Hamburg
Bundesland: Hamburg
CPV: 38511100 — Rasterelektronenmikroskope
Verfahrensart: Verhandlungsverfahren ohne Aufruf zum Wettbewerb
Veröffentlicht: 30.08.2024
Kennung: 0361d04c-e7d0-4e47-a6d4-944f74046d50
Quelle: TED (EU-Amtsblatt)

Lose

Los 0

Zuschlag

IB-FT GmbHBerlin

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Original-Bekanntmachung

Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 30.08.2024, 00:00.