Ausschreibung
Dual Beam Focused Ion Beam System (FIB) und Transmissionselektronenmikroskop (TEM)
Beschreibung
Los1: DualBeam Focused Ion Beam Systems (FIB) Gegenstand ist die Lieferung, Installation, Inbetriebnahme sowie betriebsbereite Übergabe eines DualBeam Focused Ion Beam Systems (FIB) einschließlich Einweisung/Schulung und vollständiger Systemdokumentation. Die technischen Mindestanforderungen und Bewertungsaspekte ergeben sich aus den Dokumenten "Los1.25-1696.05.techn.Anforderungsprofil" und "Los1.25-1696.06.Wertungsmatrix". Los2: Transmissionselektronenmikroskop (TEM) Gegenstand ist die Lieferung, Installation, Inbetriebnahme sowie betriebsbereite Übergabe eines Transmissionselektronenmikroskops (TEM) einschließlich Einweisung/Schulung und vollständiger Systemdokumentation. Die technischen Mindestanforderungen und Bewertungsaspekte ergeben sich aus den Dokumenten "Los2.25-1707.05.techn.Anforderungsprofil" und "Los2.25-1707.06.Wertungsmatrix".
Analyse: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto
Mit einem Konto liest Tender Automation die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus eine Analyse: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.
Analyse ansehenAngaben aus der Bekanntmachung
- Auftraggeber
- Institut für Oberflächen- und Schichttechnik GmbH
- Ort
- Kaiserslautern
- Bundesland
- Rheinland-Pfalz
- CPV
-
38000000 — Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser)
Weitere: 38000000 - Verfahrensart
- Offenes Verfahren
- Veröffentlicht
- 15.07.2026
- Angebotsfrist
- 17.08.2026, 23:59
- Kennung
- b3e6743d-bfc2-4cac-a001-90b28790bddb
- Quelle
- oeffentlichevergabe.de (Bund)
Lose
- Los 1 — Dual Beam Focused Ion Beam System (FIB)
- Los 2 — Transmissionselektronenmikroskop (TEM)
Verlauf des Verfahrens
-
Ausschreibung
15.07.2026
Dual Beam Focused Ion Beam System (FIB) und Transmissionselektronenmikroskop (TEM) -
Ausschreibung
17.07.2026
Deutschland – Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser) – Dual Beam Focused Ion Beam System (FIB) und Transmissionselektronenmikroskop (TEM)
Zum Vergabeportal
Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 25.09.2026, 06:46.