Ergebnis der Vergabe
Deutschland – Instrumente zum Prüfen von physikalischen Eigenschaften – Beschaffung eines dedizierten Elektronenstrahllithografie-Systems
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Bieter
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Beschreibung
Das hier beschriebene Vergabeverfahren betrifft die Beschaffung eines dedizierten Elektro-nenstrahllithographiesystems zur nanoskaligen Strukturierung dünner Polymerfilme mittels elektrostatischer Rasterung eines fokussierten, hochenergetischen Elektronenstrahls für die Erforschung zweidimensionaler Materialien in quantenphysikalischen Experimenten.
Analyse: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto
Mit einem Konto liest Tender Automation die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus eine Analyse: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.
Analyse ansehenAngaben aus der Bekanntmachung
- Auftraggeber
- Ludwig-Maximilians-Universität München
- Ort
- München
- Bundesland
- Bayern
- CPV
- 38400000 — Instrumente zum Prüfen von physikalischen Eigenschaften
- Verfahrensart
- Offenes Verfahren
- Veröffentlicht
- 07.05.2024
- Zuschlag am
- 27.04.2024
- Kennung
- 4f937bea-14ac-4de1-be11-c568b5882810
- Quelle
- TED (EU-Amtsblatt)
Lose
- Los 1
Zuschlag
- Raith GmbHDortmund
Zum Vergabeportal
Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 07.05.2024, 02:00.