Ergebnis der Vergabe
Deutschland – Elektronische Messgeräte – Wafer Probe Station (ENAS-12.1) - PR1101164-3340-P
1
Bieter
1
Los
Beschreibung
Wafer Probe Station (ENAS-12.1)
Analyse: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto
Mit einem Konto liest Tender Automation die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus eine Analyse: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.
Analyse ansehenAngaben aus der Bekanntmachung
- Auftraggeber
- Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12
- Ort
- München
- Bundesland
- Sachsen
- CPV
- 38552000 — Elektronische Messgeräte
- Verfahrensart
- Verhandlungsverfahren mit vorheriger Veröffentlichung eines Aufrufs zum Wettbewerb/Verhandlungsverfahren
- Veröffentlicht
- 14.07.2026
- Zuschlag am
- 13.07.2026
- Kennung
- da5c563c-f3b5-433a-999c-ba7b09a94e19
- Quelle
- TED (EU-Amtsblatt)
Lose
- Los 0
Zuschlag
- AccretechMünchen
Verlauf des Verfahrens
-
Ausschreibung
16.12.2025
Deutschland – Elektronische Messgeräte – Wafer Probe Station (ENAS-12.1) - PR1101164-3340-P -
Ergebnis der Vergabe
13.07.2026
Wafer Probe Station (ENAS-12.1) - PR1101164-3340-P -
Ergebnis der Vergabe
14.07.2026
Deutschland – Elektronische Messgeräte – Wafer Probe Station (ENAS-12.1) - PR1101164-3340-P
Änderungen der Bekanntmachung
- Verfahrensart: keine Angabe → neg-w-call 11.09.2026, 19:43
- Art der Bekanntmachung: bekanntmachung → ergebnis 11.09.2026, 19:43
- Bieterzahl: keine Angabe → 1 11.09.2026, 19:43
- Zuschlag am: keine Angabe → 13.07.2026, 23:59 11.09.2026, 19:43
Zum Vergabeportal
Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 11.09.2026, 19:43.