Tender Automation

Ergebnis der Vergabe

Deutschland – Rasterelektronenmikroskope – Feldemissionsrasterelektronenmikroskop/ Field Emission Scanning Electron Microscope - PR173371-2320-W

2 Bieter
1 Los

Beschreibung

PR173371-2320-W Feldemissionsrasterelektronenmikroskop

Analyse: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto

Mit einem Konto liest Tender Automation die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus eine Analyse: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.

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Angaben aus der Bekanntmachung

Ort
München
Bundesland
Nordrhein-Westfalen
CPV
38511100 — Rasterelektronenmikroskope
Weitere: 42990000
Verfahrensart
Verhandlungsverfahren mit vorheriger Veröffentlichung eines Aufrufs zum Wettbewerb/Verhandlungsverfahren
Veröffentlicht
24.11.2023
Kennung
638f9b49-9425-4760-864e-8eca3d8729f0
Quelle
TED (EU-Amtsblatt)

Lose

Zuschlag

Zum Vergabeportal

Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 24.11.2023, 01:00.