Ergebnis der Vergabe

Deutschland – Apparate und Geräte zum Prüfen und Testen – Automated test systems

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Beschreibung

Measuring station for the complete, automated, electrical characterization of integrated circuits.

Analyse: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto

Mit einem Konto liest Tender Automation die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus eine Analyse: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.

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Angaben aus der Bekanntmachung

Auftraggeber: Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e. V. für Ihr Fraunhofer Institut für Integrierte Schaltungen IIS
Ort: Erlangen
Bundesland: Bayern
CPV: 38500000 — Apparate und Geräte zum Prüfen und Testen
Verfahrensart: Verhandlungsverfahren ohne Aufruf zum Wettbewerb
Veröffentlicht: 11.02.2025
Zuschlag am: 03.02.2025
Kennung: 33d0d875-aeed-431c-b67d-e8f95681fe32
Quelle: TED (EU-Amtsblatt)

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Zuschlag

National Instruments Germany GmbHMünchen

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Original-Bekanntmachung

Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 12.09.2026, 21:30.