Ergebnis der Vergabe
Tschechien – Rasterelektronenmikroskope – Skenovací elektronový mikroskop
1
Bieter
1
Los
Beschreibung
Předmětem plnění veřejné zakázky je dodávka skenovacího elektronového mikroskopu s příslušenstvím – dle Přílohy č. 1 - Technické specifikace.
Analyse: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto
Mit einem Konto liest Tender Automation die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus eine Analyse: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.
Analyse ansehenAngaben aus der Bekanntmachung
- Ort
- Praha - Libeň
- Bundesland
- Česko
- CPV
- 38511100 — Rasterelektronenmikroskope
- Verfahrensart
- Offenes Verfahren
- Veröffentlicht
- 26.03.2025
- Zuschlag am
- 06.11.2024
- Kennung
- 836e4747-dea5-447b-8abc-4ba3fe077262
- Quelle
- TED (EU-Amtsblatt)
Lose
- Los 1
Zuschlag
- JEOL (EUROPE) SAS- organizační složkaPraha - Nové Město
Verlauf des Verfahrens
-
Ergebnis der Vergabe
26.03.2025
Tschechien – Rasterelektronenmikroskope – Skenovací elektronový mikroskop -
Ergebnis der Vergabe
16.05.2025
Tschechien – Rasterelektronenmikroskope – Skenovací elektronový mikroskop
Zum Vergabeportal
Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 12.09.2026, 21:23.