Ausschreibung
Frankreich – Rastersondenmikroskope – Couplage de la Microscopie à Force Atomique et de l'Electrochimie pour l'étude des interfaces solide-liquide
Zu diesem Verfahren liegt bereits ein Zuschlag vor. Die Frist unten steht so in der Bekanntmachung; vergeben ist der Auftrag trotzdem. Zum Ergebnis
Beschreibung
Ce projet d'acquisition porte sur un microscope à force atomique (AFM) combiné à plusieurs modes de mesures, en particulier électrochimiques. L'objectif sera de repousser les limites de la cartographie électrochimique, de conductivité des surfaces, et de propriétés mécaniques, ainsi que de l'imagerie interfaciale aux interfaces solide/liquide, pour atteindre une résolution à l'échelle atomique et à l'échelle ionique en milieu liquide.
Analyse: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto
Mit einem Konto liest Tender Automation die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus eine Analyse: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.
Analyse ansehenAngaben aus der Bekanntmachung
- Auftraggeber
- ESPCI Paris PSL
- Ort
- Paris cedex 05
- Bundesland
- Ile-de-France
- CPV
-
38514200 — Rastersondenmikroskope
Weitere: 38510000 - Verfahrensart
- Offenes Verfahren
- Veröffentlicht
- 03.12.2025
- Angebotsfrist
- 19.01.2026, 11:00
- Kennung
- 1ec82d09-4bb7-4a36-97c2-3d72289a3f32
- Quelle
- TED (EU-Amtsblatt)
Lose
- Los 1
Verlauf des Verfahrens
-
Ausschreibung
03.12.2025
Frankreich – Rastersondenmikroskope – Couplage de la Microscopie à Force Atomique et de l'Electrochimie pour l'étude des interfaces solide-liquide -
Ergebnis der Vergabe
20.03.2026
Frankreich – Rastersondenmikroskope – Couplage de la Microscopie à Force Atomique et de l'Electrochimie pour l'étude des interfaces solide-liquide
Zum Vergabeportal
Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 12.09.2026, 18:25.