Ausschreibung

Deutschland – Instrumente zum Prüfen von physikalischen Eigenschaften – Ionenfeinstrahlanlage (FIB)

Zu diesem Verfahren liegt bereits ein Zuschlag vor. Die Frist unten steht so in der Bekanntmachung; vergeben ist der Auftrag trotzdem. Zum Ergebnis

09.02.2026, 14:00 Angebotsfrist · abgelaufen

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Beschreibung

Gegenstand des Vergabeverfahrens ist die Lieferung und betriebsbereite Übergabe einer Ionenfeinstrahlanlage (Focused Ion Beam System, FIB) .

Analyse: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto

Mit einem Konto liest Tender Automation die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus eine Analyse: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.

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Angaben aus der Bekanntmachung

Auftraggeber: Technische Universität Dresden, Dezernat Finanzen und Beschaffung, Sachgebiet Zentrale Beschaffung und Anlagenbuchhaltung
Ort: Dresden
Bundesland: Sachsen
CPV: 38400000 — Instrumente zum Prüfen von physikalischen Eigenschaften
Verfahrensart: Offenes Verfahren
Veröffentlicht: 12.01.2026
Angebotsfrist: 09.02.2026, 14:00
Kennung: 74398204-a5bc-4cac-8694-7d384b89e825
Quelle: TED (EU-Amtsblatt)

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Verlauf des Verfahrens

Ausschreibung 12.01.2026
Deutschland – Instrumente zum Prüfen von physikalischen Eigenschaften – Ionenfeinstrahlanlage (FIB)
Ergebnis der Vergabe 18.02.2026
Deutschland – Instrumente zum Prüfen von physikalischen Eigenschaften – Ionenfeinstrahlanlage (FIB)

Zum Vergabeportal

Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 12.09.2026, 18:09.