Ergebnis der Vergabe
Deutschland – Apparate und Geräte zum Prüfen und Testen – Waferprober
2
Bieter
1
Los
Beschreibung
Gegenstand der Anschaffung ist ein Wafer Prober für den elektrischen Test von Halbleiterwafern mit einer Größe von 150 mm bis 300 mm.
Analyse: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto
Mit einem Konto liest Tender Automation die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus eine Analyse: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.
Analyse ansehenAngaben aus der Bekanntmachung
- Auftraggeber
- Technische Universität München
- Ort
- München
- Bundesland
- Bayern
- CPV
-
38500000 — Apparate und Geräte zum Prüfen und Testen
Weitere: 38540000 - Verfahrensart
- Offenes Verfahren
- Veröffentlicht
- 02.04.2026
- Zuschlag am
- 01.04.2026
- Kennung
- 44f69426-3e8b-42a8-bc0c-04367b9401c5
- Quelle
- TED (EU-Amtsblatt)
Lose
- Los 1
Zuschlag
- ATV Systems GmbHDresden
Verlauf des Verfahrens
-
Ausschreibung
09.02.2026
Deutschland – Apparate und Geräte zum Prüfen und Testen – Waferprober -
Ergebnis der Vergabe
02.04.2026
Deutschland – Apparate und Geräte zum Prüfen und Testen – Waferprober
Änderungen der Bekanntmachung
- Verfahrensart: keine Angabe → open 12.09.2026, 17:24
- Art der Bekanntmachung: bekanntmachung → ergebnis 12.09.2026, 17:24
- Bieterzahl: keine Angabe → 2 12.09.2026, 17:24
- Zuschlag am: keine Angabe → 01.04.2026, 23:59 12.09.2026, 17:24
Zum Vergabeportal
Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 12.09.2026, 17:24.