Tender Automation

Ergebnis der Vergabe

Rasterelektronenmikroskop

1 Bieter
1 Los

Beschreibung

Beschafft werden soll ein hochauflösendes analytisches Rasterelektronenmikroskop mit Hochvakuum- und Niedervakuumbetrieb, integrierter energiedispersiver Röntgenmikroanalyse, Detektorausstattung, Probenpositionierung, Steuer- und Auswertesoftware, Zubehör, Installation, Einweisung und Applikationstraining. Das System muss für materialwissenschaftliche Untersuchungen, hochauflösende Bildgebung, Elementanalysen, Elementverteilungsbilder, automatisierte Messabläufe und korrelative Probennavigation geeignet sein.

Analyse: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto

Mit einem Konto liest Tender Automation die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus eine Analyse: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.

Analyse ansehen

Angaben aus der Bekanntmachung

Ort
Erlangen
Bundesland
Bayern
CPV
38510000 — Mikroskope
Verfahrensart
Offenes Verfahren
Veröffentlicht
04.08.2026
Zuschlag am
04.08.2026
Kennung
7e99bb4e-2c45-4a0b-902a-f526c45c643f
Quelle
oeffentlichevergabe.de (Bund)

Lose

Zuschlag

Verlauf des Verfahrens

Änderungen der Bekanntmachung

Zum Vergabeportal

Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 25.09.2026, 06:49.