Ausschreibung · Frankreich
Acquisition d'un microscope électronique à balayage, field emission gun (MEB FEG), à pression variable pour l'université de technologie de Compiègne
Auslandsverfahren: Frankreich. Titel und Beschreibung stehen in der Originalsprache (Französisch), ohne Übersetzung. Beträge stehen in der veröffentlichten Währung, Fristen in deutscher Zeit (MEZ/MESZ).
10.07.2026, 12:00
Angebotsfrist · abgelaufen
Analyse: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto
Mit einem Konto liest Tender Automation die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus eine Analyse: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.
Analyse ansehenAngaben aus der Bekanntmachung
- Auftraggeber
- Université de Technologie de Compiègne
- Region
- Hauts-de-France
- Land
- Frankreich
- Sprache der Bekanntmachung
- Französisch
- CPV
- 38511100 — Rasterelektronenmikroskope
- Veröffentlicht
- 10.06.2026
- Angebotsfrist
- 10.07.2026, 12:00
- Kennung
- be148133-9bf6-4a8f-b2ac-836813f63934
- Quelle
- boamp
Verlauf des Verfahrens
-
Ausschreibung
10.06.2026
Frankreich – Rasterelektronenmikroskope – Acquisition d'un microscope électronique à balayage, field emission gun (MEB FEG), à pression variable pour l'université de technologie de Compiègne -
Ausschreibung
10.06.2026
Acquisition d'un microscope électronique à balayage, field emission gun (MEB FEG), à pression variable pour l'université de technologie de Compiègne
Zum Vergabeportal
Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 10.06.2026, 00:00.